高壓放大器在半導(dǎo)體測(cè)試中扮演著“能量助推器”和“精密指揮官”的角色,它將測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生的微弱控制信號(hào)精準(zhǔn)放大到數(shù)百甚至數(shù)千伏的高壓,以滿足各種嚴(yán)苛的測(cè)試條件。下面將詳細(xì)介紹它在幾個(gè)關(guān)鍵測(cè)試場(chǎng)景中的具體作用以及需求。介電擊穿測(cè)試:對(duì)芯片的絕緣層施加從低到高(可達(dá)±20kV)的直流或掃描電壓,分析其絕緣失效的臨界點(diǎn)。需求:高輸出電壓、低噪聲(<100μVrms)、精確的電壓控制。芯片老化測(cè)試(如功率器件):施加高于正常工作電壓的應(yīng)力,加速芯片老化,以評(píng)估其長(zhǎng)期可靠性。需求:高電壓/電流輸出、長(zhǎng)期穩(wěn)定性、良好的過(guò)溫與過(guò)流保護(hù)機(jī)制。壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)(MEMS傳感器):驅(qū)動(dòng)微機(jī)電系統(tǒng)中的壓電元件,實(shí)現(xiàn)精密運(yùn)動(dòng)或傳感。需求:能夠驅(qū)動(dòng)容性負(fù)載、高輸出電流(峰值可達(dá)百mA級(jí))、四象限輸出。晶體管參數(shù)測(cè)試:為