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國家知識產權局信息顯示,浙江零跑科技股份有限公司取得一項名為“一種負載測試工裝和負載測試系統”的專利,授權公告號CN223796605U,申請日期為2025年1月。專利摘要顯示,本申請公開了一種負載測試工裝和負載測試系統。本申請提供的負載測試工裝包括輸入端、輸出端、功率電阻網絡和電流檢測裝置;功率電阻網絡位于輸入端和輸出端之間,功率電阻網絡包括第一主路,第一主路包括第一負載單元,第一負載單元包括第一開關、第一大功率電阻和第二大功率電阻,第一開關用于切換第一大功率電阻和第二大功率電阻中的一者導通輸入端和輸出端;電流檢測裝置與功率電阻網絡串聯,電流檢測裝置用于檢測輸入端和輸出端之間的電流值。由此,僅需通過第一開關切換第一大功率電阻和第二大功率電阻中的一者導通輸入端和輸出端,即可調整模擬負載的電阻
查看 >>2026-01-25
國家知識產權局信息顯示,眸芯科技(上海)有限公司申請一項名為“芯片調測系統及方法”的專利,公開號CN121210229A,申請日期為2025年9月。專利摘要顯示,本發明公開了芯片調測系統及方法,涉及芯片開發技術領域。所述系統包括待測芯片端和外設接口發送裝置,外設接口發送裝置設置在待測芯片端外部,與待測芯片通過管腳連接線連接,用于向待測芯片發送不同類型的低速協議激勵信號;待測芯片的內部嵌入有協議轉換裝置,其被配置為:通過待測芯片封裝的管腳,接收外設接口發送裝置發送的低速協議激勵信號,對該激勵信號進行解析、轉換后得到AMBA總線協議的激勵信號,再通過AMBA總線發送至待測芯片的目標地址模塊,以對芯片的目標模塊寄存器進行訪問。本發明改進了芯片回片階段的測試和調試手段,可以對傳統調測方案進行補充或替
查看 >>2026-01-25
 
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