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國家知識產權局信息顯示,仝瑞半導體科技(上海)有限公司取得一項名為“一種可快速拆裝的芯片量產測試用插座”的專利,授權公告號CN223815386U,申請日期為2025年1月。專利摘要顯示,本實用新型提出一種可快速拆裝的芯片量產測試用插座,包括測試底座、浮動支座、芯片保持座和頂蓋,浮動支座底部滑動扣合于測試底座頂部的浮動凸部,緊貼浮動支座的上表面設有芯片保持座,緊貼所述芯片保持座的頂部設有頂蓋。本實用新型通過將頂蓋蓋設于芯片保持座上且向下按壓,直至頂蓋兩側所設扣件底部的扣齒與測試底座兩側的扣槽相扣合,在按壓過程中,待測芯片的引腳被配合插入引腳插孔支座上所設的引腳插孔中,從而實現待測芯片的裝配連接,裝配簡單。天眼查資料顯示,仝瑞半導體科技(上海)有限公司,成立于2021年,位于上海市,是一家以從
查看 >>2026-01-25
國家知識產權局信息顯示,眸芯科技(上海)有限公司申請一項名為“芯片調測系統及方法”的專利,公開號CN121210229A,申請日期為2025年9月。專利摘要顯示,本發明公開了芯片調測系統及方法,涉及芯片開發技術領域。所述系統包括待測芯片端和外設接口發送裝置,外設接口發送裝置設置在待測芯片端外部,與待測芯片通過管腳連接線連接,用于向待測芯片發送不同類型的低速協議激勵信號;待測芯片的內部嵌入有協議轉換裝置,其被配置為:通過待測芯片封裝的管腳,接收外設接口發送裝置發送的低速協議激勵信號,對該激勵信號進行解析、轉換后得到AMBA總線協議的激勵信號,再通過AMBA總線發送至待測芯片的目標地址模塊,以對芯片的目標模塊寄存器進行訪問。本發明改進了芯片回片階段的測試和調試手段,可以對傳統調測方案進行補充或替
查看 >>2026-01-25
 
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