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國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，眸芯科技（上海）有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“芯片調(diào)測(cè)系統(tǒng)及方法”的專利，公開號(hào)CN121210229A，申請(qǐng)日期為2025年9月。專利摘要顯示，本發(fā)明公開了芯片調(diào)測(cè)系統(tǒng)及方法，涉及芯片開發(fā)技術(shù)領(lǐng)域。所述系統(tǒng)包括待測(cè)芯片端和外設(shè)接口發(fā)送裝置，外設(shè)接口發(fā)送裝置設(shè)置在待測(cè)芯片端外部，與待測(cè)芯片通過(guò)管腳連接線連接，用于向待測(cè)芯片發(fā)送不同類型的低速協(xié)議激勵(lì)信號(hào)；待測(cè)芯片的內(nèi)部嵌入有協(xié)議轉(zhuǎn)換裝置，其被配置為：通過(guò)待測(cè)芯片封裝的管腳，接收外設(shè)接口發(fā)送裝置發(fā)送的低速協(xié)議激勵(lì)信號(hào)，對(duì)該激勵(lì)信號(hào)進(jìn)行解析、轉(zhuǎn)換后得到AMBA總線協(xié)議的激勵(lì)信號(hào)，再通過(guò)AMBA總線發(fā)送至待測(cè)芯片的目標(biāo)地址模塊，以對(duì)芯片的目標(biāo)模塊寄存器進(jìn)行訪問。本發(fā)明改進(jìn)了芯片回片階段的測(cè)試和調(diào)試手段，可以對(duì)傳統(tǒng)調(diào)測(cè)方案進(jìn)行補(bǔ)充或替

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，國(guó)網(wǎng)河南省電力公司電力科學(xué)研究院、河海大學(xué)、國(guó)網(wǎng)河南省電力公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“多饋入?yún)f(xié)同的特高壓直流換相失敗抑制及穩(wěn)定控制方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)”的專利，公開號(hào)CN121356008A，申請(qǐng)日期為2025年10月。專利摘要顯示，本發(fā)明屬于電力系統(tǒng)控制領(lǐng)域，具體涉及一種多饋入?yún)f(xié)同的特高壓直流換相失敗抑制及穩(wěn)定控制方法。本發(fā)明方法通過(guò)工況分類模型精準(zhǔn)識(shí)別正常工況與故障工況，利用時(shí)序預(yù)測(cè)模型預(yù)測(cè)未來(lái)多個(gè)預(yù)設(shè)時(shí)間點(diǎn)的預(yù)測(cè)狀態(tài)向量和第一預(yù)測(cè)關(guān)斷角，提前掌握系統(tǒng)狀態(tài)變化趨勢(shì)，為換相失敗的預(yù)防和抑制爭(zhēng)取時(shí)間，根據(jù)預(yù)測(cè)狀態(tài)向量對(duì)應(yīng)的工況類別信息，確定目標(biāo)起始狀態(tài)向量和目標(biāo)終止?fàn)顟B(tài)向量，根據(jù)這期間的預(yù)測(cè)狀態(tài)向量和第一預(yù)測(cè)關(guān)斷角確定目標(biāo)優(yōu)化損失，并更新參考調(diào)制參數(shù)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)調(diào)制參數(shù)的動(dòng)態(tài)優(yōu)