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國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，南京海興電網(wǎng)技術(shù)有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種適用于24kV及以下的環(huán)保型負(fù)荷開(kāi)關(guān)”的專利，公開(kāi)號(hào)CN 121054417 A，申請(qǐng)日期為2025年10月。專利摘要顯示，本發(fā)明公開(kāi)了一種適用于24kV及以下的環(huán)保型負(fù)荷開(kāi)關(guān)，包括靜刀頭、動(dòng)刀裝配、動(dòng)刀座和滅弧單元，動(dòng)刀裝配一端鉸接于動(dòng)刀座上，另一端實(shí)現(xiàn)與靜刀頭導(dǎo)電連接的接通與斷開(kāi)，滅弧單元包括滅弧室、連接套和滅弧驅(qū)動(dòng)裝置，滅弧室包括靜觸頭和動(dòng)觸頭，靜觸頭與連接套固定連接，連接套套設(shè)于靜刀頭外，動(dòng)觸頭與滅弧驅(qū)動(dòng)裝置固定連接；滅弧驅(qū)動(dòng)裝置包括驅(qū)動(dòng)盒、連桿機(jī)構(gòu)、鉸接于驅(qū)動(dòng)盒上的絕緣撥板，驅(qū)動(dòng)盒上設(shè)置驅(qū)動(dòng)導(dǎo)向槽，連桿機(jī)構(gòu)鉸接于滅弧室的動(dòng)觸頭和滅弧室外壁之間，連桿機(jī)構(gòu)的動(dòng)銷釘沿驅(qū)動(dòng)導(dǎo)向槽移動(dòng)。通過(guò)刀閘將有功負(fù)載等電流轉(zhuǎn)移至滅弧室進(jìn)行

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，武漢中直電氣股份有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種基于零電壓軟開(kāi)關(guān)雙向DC-DC變換器”的專利，公開(kāi)號(hào)CN121356350A，申請(qǐng)日期為2025年11月。專利摘要顯示，本發(fā)明涉及直流DC?DC變換技術(shù)領(lǐng)域，且公開(kāi)了一種基于零電壓軟開(kāi)關(guān)雙向DC?DC變換器，包括：高壓側(cè)全橋電路，所述高壓側(cè)全橋電路由四個(gè)高壓開(kāi)關(guān)管S1～S4、對(duì)應(yīng)開(kāi)關(guān)管的體二極管D1～D4及結(jié)電容C1～C4組成，所述高壓側(cè)全橋電路的輸出端并聯(lián)有高壓側(cè)濾波電容Ch，用于穩(wěn)定高壓側(cè)電壓Uh，低壓側(cè)全橋電路，所述低壓側(cè)全橋電路由四個(gè)低壓開(kāi)關(guān)管S5～S8、對(duì)應(yīng)開(kāi)關(guān)管的體二極管D5～D8及結(jié)電容C5～C8組成。該基于零電壓軟開(kāi)關(guān)雙向DC?DC變換器，通過(guò)諧振網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)全橋開(kāi)關(guān)管的零電壓開(kāi)通與關(guān)斷，顯著降低開(kāi)關(guān)損耗，尤其在高

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，廣州綠口十科技有限責(zé)任公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“變形開(kāi)關(guān)、車輛及車輛發(fā)生碰撞的控制方法”的專利，公開(kāi)號(hào)CN121215450A，申請(qǐng)日期為2025年9月。專利摘要顯示，本申請(qǐng)涉及開(kāi)關(guān)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及變形開(kāi)關(guān)、車輛及車輛發(fā)生碰撞的控制方法。變形開(kāi)關(guān)包括變形體、第一導(dǎo)體、第二導(dǎo)體、電源以及繼電器，繼電器具有第一接口、第二接口以及第三接口，第一接口與第一導(dǎo)體的另一端連接，第二接口與電源連接，第二接口和第三接口之間為常開(kāi)電路，當(dāng)變形體發(fā)生變形使第一導(dǎo)體和第二導(dǎo)體位于內(nèi)腔中的局部接觸時(shí)，第二接口和第三接口通電，第三接口用于連接被控單元。該變形開(kāi)關(guān)通過(guò)繼電器中轉(zhuǎn)后，第一導(dǎo)體、第二導(dǎo)體僅需承受繼電器線圈的小電流，大幅延長(zhǎng)了開(kāi)關(guān)的使用壽命，被控單元的功率、電流、電壓可靈活調(diào)整，只需選擇匹

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，浙江浙南機(jī)車業(yè)有限公司取得一項(xiàng)名為“一種旋轉(zhuǎn)式按鈕開(kāi)關(guān)”的專利，授權(quán)公告號(hào)CN223797286U，申請(qǐng)日期為2025年1月。專利摘要顯示，本實(shí)用新型公開(kāi)了一種旋轉(zhuǎn)式按鈕開(kāi)關(guān)，包括設(shè)有安裝部的殼體、固定于殼體內(nèi)的功能開(kāi)關(guān)和活動(dòng)安裝于安裝部上的觸發(fā)件；安裝部為弧形結(jié)構(gòu)，觸發(fā)件包括限位安裝于安裝部?jī)?nèi)側(cè)并做弧形運(yùn)動(dòng)的觸壓滑塊和與觸壓滑塊固定相連的按鈕，安裝部設(shè)有供按鈕穿過(guò)的按鈕穿孔，按鈕外端具有凸出于安裝部外的按壓部，觸壓滑塊上設(shè)有與功能開(kāi)關(guān)相對(duì)的觸壓部，向按壓部施加外力使按鈕帶動(dòng)觸壓滑塊做弧形旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)并通過(guò)觸壓部觸發(fā)功能開(kāi)關(guān)；本實(shí)用新型中旋轉(zhuǎn)式按鈕開(kāi)關(guān)結(jié)構(gòu)經(jīng)過(guò)優(yōu)化，通過(guò)觸壓按鈕使觸發(fā)件沿弧形路徑運(yùn)動(dòng)，從而能夠通過(guò)觸壓部對(duì)功能開(kāi)關(guān)進(jìn)行正向垂直觸發(fā)以實(shí)現(xiàn)控制目的，有效保證開(kāi)關(guān)

負(fù)荷開(kāi)關(guān)材料檢測(cè)技術(shù)文章 1. 檢測(cè)介紹 負(fù)荷開(kāi)關(guān)材料檢測(cè)是電力設(shè)備質(zhì)量控制的重要環(huán)節(jié)，主要針對(duì)負(fù)荷開(kāi)關(guān)使用的各類材料進(jìn)行性能評(píng)估和質(zhì)量驗(yàn)證。負(fù)荷開(kāi)關(guān)作為電力系統(tǒng)中重要的控制和保護(hù)設(shè)備，其材料性能直接影響設(shè)備的電氣性能、機(jī)械強(qiáng)度和使用壽命。通過(guò)的材料檢測(cè)可以確保負(fù)荷開(kāi)關(guān)在各種工況下都能安全可靠運(yùn)行，預(yù)防因材料缺陷導(dǎo)致的設(shè)備故障。這項(xiàng)檢測(cè)對(duì)于保障電網(wǎng)安全、提高供電可靠性具有重要意義。檢測(cè)內(nèi)容包括材料的物理性能、化學(xué)性能、電氣性能等多個(gè)方面，涉及金屬材料、絕緣材料、密封材料等多種材料類型。的檢測(cè)中心通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化的檢測(cè)流程和先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備，為負(fù)荷開(kāi)關(guān)制造商和使用單位提供權(quán)威的質(zhì)量評(píng)估報(bào)告。2. 檢測(cè)范圍包含的樣品 負(fù)荷開(kāi)關(guān)材料檢測(cè)涵蓋以下主要樣品類型：3. 檢測(cè)項(xiàng)目 負(fù)荷開(kāi)關(guān)材料檢測(cè)的主要項(xiàng)目包括但

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，濟(jì)南晶碩電子有限公司取得一項(xiàng)名為“一種芯片厚度檢測(cè)裝置”的專利，授權(quán)公告號(hào)CN223755989U，申請(qǐng)日期為2025年3月。專利摘要顯示，本申請(qǐng)涉及芯片厚度檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片厚度檢測(cè)裝置，包括承載座、芯片上下移動(dòng)裝置、對(duì)射式光電開(kāi)關(guān)以及控制裝置，承載座兩側(cè)上方固定設(shè)有側(cè)梁；芯片上下移動(dòng)裝置用于承載芯片和控制芯片上下移動(dòng)；對(duì)射式光電開(kāi)關(guān)對(duì)稱設(shè)于芯片上下移動(dòng)裝置兩側(cè)的側(cè)梁上；控制裝置與對(duì)射式光電開(kāi)關(guān)和芯片上下移動(dòng)裝置電連接，用于根據(jù)芯片上下移動(dòng)裝置移動(dòng)的距離計(jì)算出芯片厚度。本申請(qǐng)的芯片厚度檢測(cè)裝置不需要測(cè)厚儀，利用高精度直線電機(jī)配合高分辨率的對(duì)射式光電開(kāi)關(guān)或者激光對(duì)射式傳感器完成芯片的厚度檢測(cè)。天眼查資料顯示，濟(jì)南晶碩電子有限公司，成立于2013年，位于

開(kāi)關(guān)損耗檢測(cè)技術(shù)文章 開(kāi)關(guān)損耗檢測(cè)技術(shù)詳解 1. 檢測(cè)介紹 開(kāi)關(guān)損耗檢測(cè)是電力電子設(shè)備性能評(píng)估中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，主要用于量化開(kāi)關(guān)器件（如MOSFET、IGBT等）在開(kāi)關(guān)過(guò)程中產(chǎn)生的能量損失。開(kāi)關(guān)損耗直接影響設(shè)備的效率、溫升和可靠性，因此精確檢測(cè)開(kāi)關(guān)損耗對(duì)于優(yōu)化電路設(shè)計(jì)、提升能效和延長(zhǎng)設(shè)備壽命具有重要意義。該檢測(cè)廣泛應(yīng)用于新能源發(fā)電、電動(dòng)汽車、工業(yè)變頻器等高科技領(lǐng)域。#沉浸式曬谷子#2. 檢測(cè)范圍包含的樣品 開(kāi)關(guān)損耗檢測(cè)覆蓋多種電力電子器件和系統(tǒng)，主要包括以下樣品（不少于十五個(gè)）：3. 檢測(cè)的項(xiàng)目 開(kāi)關(guān)損耗檢測(cè)涉及多個(gè)關(guān)鍵參數(shù)，確保全面評(píng)估器件性能。主要檢測(cè)項(xiàng)目包括（不少于十五個(gè)）：4. 檢測(cè)所需方法信息 為實(shí)現(xiàn)精確的開(kāi)關(guān)損耗檢測(cè)，需采用多種標(biāo)準(zhǔn)化和先進(jìn)方法，包括（不少于十五個(gè)）：5. 檢測(cè)所需儀

在一個(gè)連續(xù)工作電流接近 100A 的工業(yè)電源項(xiàng)目中，我們一開(kāi)始并沒(méi)有把太多注意力放在電流測(cè)量本身。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)并不復(fù)雜，PFC 加 DC/DC，電流閉環(huán)控制，控制芯片和算法都是已經(jīng)在多個(gè)項(xiàng)目中用過(guò)的方案。按理說(shuō)，這樣的系統(tǒng)不太可能出現(xiàn)難以解釋的不穩(wěn)定問(wèn)題。但在調(diào)試階段，系統(tǒng)表現(xiàn)出一種很“別扭”的狀態(tài)。從示波器上看，輸出電壓穩(wěn)定，紋波也在預(yù)期范圍內(nèi)，相位裕度檢查下來(lái)也沒(méi)有明顯問(wèn)題，負(fù)載變化速度不算激進(jìn)，整體看起來(lái)一切都“說(shuō)得過(guò)去”?？墒窃趯?shí)際運(yùn)行中，系統(tǒng)卻在一些并不極端的場(chǎng)景下出現(xiàn)了偶發(fā)保護(hù)和啟動(dòng)失敗，比如冷啟動(dòng)時(shí)偶爾拉不起來(lái)，中等負(fù)載下快速變化時(shí)控制反應(yīng)偏慢，甚至在連續(xù)運(yùn)行一段時(shí)間后重新上電，啟動(dòng)成功率會(huì)明顯下降。最開(kāi)始的排查路徑幾乎是條件反射式的，所有人都會(huì)先盯著補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)看。帶寬是不是設(shè)得太高

你有沒(méi)有遇到這種情況：主控芯片標(biāo)稱待機(jī)電流100μA，軟件也進(jìn)了深度睡眠，可整機(jī)實(shí)測(cè)靜態(tài)電流卻高出十幾倍？別急著懷疑固件或換芯片——問(wèn)題很可能出在PCB實(shí)現(xiàn)上。這不只是控制邏輯的問(wèn)題，更是PCB層面的設(shè)計(jì)考量：使能信號(hào)是否穩(wěn)定？MOS管開(kāi)關(guān)路徑是否足夠短？斷電后回路會(huì)不會(huì)通過(guò)其他路徑“偷電”？比如某個(gè)傳感器的地雖然電源斷了，但信號(hào)線還連著主控，形成漏電通路——這種細(xì)節(jié)，仿真不一定能抓到，只有實(shí)測(cè)才會(huì)暴露。再比如電源域隔離。很多工程師會(huì)在原理圖上畫(huà)出獨(dú)立供電，但在PCB布局時(shí)為了布線方便，把多個(gè)域的地混在一起鋪銅，結(jié)果域間干擾嚴(yán)重，不僅功耗上不去，還影響喚醒穩(wěn)定性。還有DC-DC與LDO的搭配使用。我們見(jiàn)過(guò)不少設(shè)計(jì)，在主電源用高效DC-DC，卻在后級(jí)為圖省事全用LDO穩(wěn)壓，忽略了壓差大時(shí)的熱損